Rivoluzionaria Tomografia XL-DOT: Scoperte su Materiali Nano-scala
La tomografia XL-DOT rivoluziona l'analisi tridimensionale dei materiali nano-scala, rivelando dettagli fondamentali e nuove prospettive. Scopri le applicazioni e il futuro di questa tecnica innovativa.
Rivoluzionaria Tomografia XL-DOT: Scoperte su Materiali Nano-scala – Scienze Notizie Tomografia di orientamento dicroico lineare ai raggi X (XL-DOT): una tecnica innovativa per l’analisi tridimensionale dei materiali nano-scala
Un innovativo metodo basato sui raggi X, all’avanguardia nel campo della ricerca scientifica, ha rivoluzionato la comprensione dell’orientamento tridimensionale delle strutture dei materiali nano-scala, fornendo preziose intuizioni sulla loro funzionalità. Il Swiss Light Source (SLS) ha introdotto una tecnica pionieristica denominata tomografia di orientamento dicroico lineare ai raggi X (XL-DOT), che consente di esplorare l’organizzazione tridimensionale dei blocchi strutturali di materiali a scala nanometrica.
Questo approccio ha rivelato dettagli fondamentali sulla struttura di un catalizzatore policristallino, consentendo agli studiosi di analizzare i grani cristallini, i confini tra i grani e i difetti, elementi critici che influenzano le prestazioni del catalizzatore. Oltre al settore della catalisi, la tecnica XL-DOT offre nuove prospettive sulla struttura di diversi materiali funzionali impiegati in settori come le tecnologie dell’informazione, l’accumulo di energia e le applicazioni biomediche.
Microstrutture e nanostrutture: la chiave per comprendere le proprietà dei materiali funzionali
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